Cleaning Plan

测试探针清洁方案

在半导体测试过程中,测试探针(Probe)长期进行高频次、高精度测试,容易因锡渣、氧化物、助焊剂残留以及微小颗粒污染造成接触阻抗升高、信号异常、测试失效等问题。
针对芯片量产测试场景,富智微科技提供高效、精密的探针清洁解决方案,通过激光清洁技术与纳米钢刷清洁技术相结合,实现测试治具的快速维护,有效提升测试良率和设备运行效率。
测试探针清洁方案

清洁设备


镭射清洁机

可用于各类型探针清洁,可有效去除针尖残留锡渣,氧化物及赃污等。相比传统毛刷或者药剂清洁,自动清洁效率高,对探针无损伤,清洁干净彻底,能大大提升测试良率及产线作业效率。


镭射清洁机



纳米钢刷

纳米钢刷可用于线下的socket清洁,可有效清除表面沾锡、脏污等,清洁效果佳。注意此钢刷不宜刷镀金针。




清洁片

清洁片是一种专用于半导体测试领域的耗材型精密清洁材料,通过测试机台或治具进行标准化接触清洁,使探针在不拆卸、不停机维护的情况下完成快速去污。


清洁片



全自动镭射机

可实现同时4ea测试座清洁


全自动镭射机

清洁前后对比


测试探针清洁方案
测试探针清洁方案
测试探针清洁方案