Handler配套转换治具
我们可为客户提供用于最终测试 (FT) 或系统级测试 (SLT) 的相应更换治具，
并可生产主要用于Pick-and-Place设备的单site和多site更换治具。
测试探针清洁方案
我们为客户提供专业探针清洁解决方案，可有效去除测试残留，延长探针使用寿命，提升测试稳定性。
探针卡
我们为客户提供种类丰富的探针卡系列产品，可满足各类型晶圆的测试需求。
