悬臂探针卡其独特的悬臂结构（探针向外延伸并向下弯曲以接触晶片）提供了稳定而灵活的测试条件。这种结构可适应焊盘位置、探针力和芯片几何形状的变化，高度适用于多种半导体，从简单的逻辑集成电路到复杂的片上系统 (SoC) 测试。