G3 POP测试座

适用标准：LPDDR6，最高速率达 14400Mbps

信号传输路径：DDR Pin、中介层（DDRshift）

测试方式：EVB手动测试、FT（ATE量产测试）、SLT系统级测试、SFT软件功能测试

G2 POP测试座

适用标准：LPDDR2/3，最高速率达 2133Mbps

信号传输路径：DDR Pin、中介层（DDRshift）

测试方式：EVB手动测试、FT（ATE量产测试）、SLT系统级测试、SFT软件功能测试

G1 POP测试座

适用标准：LPDDR2/3，最高速率达 1600Mbps

信号传输路径：DDR测试针、中介层、长针、Load Board走线

测试方式：EVB手动测试、FT（ATE量产测试）、SLT系统级测试、SFT软件功能测试