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Burn-in Socket
老化测试座
在测试行业,集成电路的寿命在很大程度上受温度影响。
老化测试座作为一种可靠性测试载体,专门用于模拟和加速电子产品在正常使用中的老化过程。它的最大优势是可以显著提高电子产品在高低温测试环境下的可靠性与稳定性。
我们老化座产品的温度规格可以兼容从-60℃ 到150℃。
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测试参数
项目
项目
工作温度
-60°C~+150°C
工作温度
48V/50W
器件功率
350W
弹簧针电流
3A
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