短针参数
| 机械参数 | 间距 [mm] | 0.5 | 0.3 | 0.2 | 0.13 |
|---|---|---|---|---|---|
| 针筒直径 [um] | 360 | 220 | 150 | 100 | |
| 工作长度 [mm] | 1.8 | 2 | 2 | 1.9 | |
| 工作行程 [mm] | 0.25 | 0.2 | 0.2 | 0.25 | |
| 预压量 [mm] | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0.1 | |
| 接触力 [gf] | 28 | 14 | 7 | 5.1 |
特殊测试探针
细间距测试探针
随着晶圆测试技术不断发展，精度要求也越来越高。测试探针也必须进行优化，以适应这些变化。 目前，在持续满足客户产品的电气性能要求的同时，我们可以提供多种细间距探针，其形式包括弹簧针或普通针。
滚动针 / 滚针探针
这种探针解决了普通探针经常面临的电气性能问题，而且延长了接触寿命，降低了因焊球残留造成的高接触阻抗。与一般由塑料制成的插座不同，我们开发出一种是100% 金属制插座，其确保了更优的电气性能和散热性，同时大大减少了对集成电路和LoadBoard的损伤。
| 电气规格 | 性能 | 提取条件 |
|---|---|---|
| 电气长度 （压缩状态高度） |
2.00mm | GSG结构,间距 0.35mm |
| 电感 | 自感:0.56 nH 互感:0.12 nH |
GSG结构,间距 0.35mm |
| 电容 | 并联(Shunt):0.15 pH 并联(Parallel):0.06 pH 互感(Mutual):0.07 pH |
GSG结构,间距 0.35mm |
| S21 传输损耗(GSG结构) | -1dB @14.6 GHz | GSG结构,间距 0.35mm |
| S11 回波损耗(GSG结构) | -20dB @6.6 GHz | GSG结构,间距 0.35mm |
| S41 串扰性能(GSSG结构) | -30dB from DC to 40GHz | GSG结构,间距 0.35mm |
| 平均接触电阻 | 50mΩ | |
| 额定电流能力 | 3.5A | 工作占空比：100% |
开尔文探针
器件触点间距：0.35mm 及以上
工作温度范围：-55°C 至150°C
器件封装：BGA、WLCSP、QFN、LGA
引脚间距：0.07mm-0.14mm
创新的斜面偏置笔尖设计，可实现更小的中心距，在设备焊盘上可达0.25 毫米。适用于0.35mm 及以上间距的低电阻电源和模拟测试，易于维护出色的信号完整性，顶部自清洁柱塞设计有利于延长寿命。也可用于单引脚大电流双针测试。
